北京2019年3月12日 /美通社/ -- 2019年2月27日，北京市第五屆發(fā)明專(zhuān)利獎頒獎儀式在北京會(huì )議中心舉辦。同方威視與清華大學(xué)共同申請的專(zhuān)利“CT系統和用于CT系統的探測裝置”獲本屆發(fā)明專(zhuān)利獎一等獎。北京市副市長(cháng)隋振江、國家知識產(chǎn)權局副局長(cháng)賀化、北京市知識產(chǎn)權局黨組書(shū)記楊東起等領(lǐng)導出席會(huì )議并講話(huà)，高級副總裁陳偉代表同方威視領(lǐng)獎。

　　CT系統獲北京市發(fā)明專(zhuān)利優(yōu)秀獎獎牌

　　同方威視高級副總裁陳偉代表公司領(lǐng)獎

　　本獲獎專(zhuān)利“CT系統和用于CT系統的探測裝置”首創(chuàng )高低能排間距的差別化設計，實(shí)現了高低能排向異性的雙能探測器結構和基于該結構的高速雙能CT檢查系統。基于本專(zhuān)利技術(shù)，同方威視在國內外首次提出了基于新型探測器結構的雙能安檢CT成像技術(shù)，形成了具有自主知識產(chǎn)權的新一代X射線(xiàn)雙能CT安檢成像系統，并成功研制出多款應用于民航、海關(guān)以及檢驗檢疫等領(lǐng)域的CT安檢成像系統。

　　本項目憑借突出的創(chuàng )新優(yōu)勢和顯著(zhù)的經(jīng)濟社會(huì )效益獲得北京市發(fā)明專(zhuān)利一等獎，充分體現了同方威視技術(shù)創(chuàng )新的實(shí)力與水平，展示了研發(fā)團隊技術(shù)創(chuàng )新的智慧成果。本專(zhuān)利獎項是對同方威視知識產(chǎn)權工作持續投入的肯定和鼓勵，對激發(fā)同方威視的創(chuàng )新積極性、提升知識產(chǎn)權創(chuàng )造和保護水平起到了巨大的推動(dòng)作用。

　　北京市發(fā)明專(zhuān)利獎是北京市政府設立的重要獎項，設置該獎項的目的是發(fā)揮政府主導作用，鼓勵創(chuàng )新主體的創(chuàng )新成果及時(shí)取得專(zhuān)利權，提高發(fā)明專(zhuān)利質(zhì)量。第五屆北京市發(fā)明專(zhuān)利獎共評選出獲獎項目36項，其中特等獎1項、一等獎5項、二等獎10項、三等獎20項。截至目前，同方威視累計獲得北京市發(fā)明專(zhuān)利特等獎1項，北京市發(fā)明專(zhuān)利一等獎2項。